TAKAYA飞针测试机与GÖPEL合作边界扫描

现代电子产品的组件复杂性越来越高，访问可能性越来越小。经常使用在线测试 （在线ICT） 和飞针测试机 （FPT） 等测试方法，但当用于球栅阵列 （BGA）、芯片级封装 （CSP） 和最小的设计（如 01005）时，它们就达到了极限。问题的关键在于，现代组件不仅缺乏用针头接触所有信号的空间。由于对信号质量的负面影响，使用传统方法进行测试变得越来越困难。这在设计新装配体时已经给开发人员带来了极大的挑战。

开发了一种设计集成的引脚电子元件，该电子器件通过 JTAG 测试总线（联合测试行动小组）进行控制。这是边界扫描（IEEE 1149.1 标准）的方法。

其独特之处在于寄存器架构的开放可扩展性以及 JTAG 接口及其传输协议的多功能性。这些特性使 JTAG/边界扫描成为用于测试、调试、编程和仿真的新型非侵入式方法和标准的技术基础：嵌入式 JTAG 解决方案。

世界领先的符合IEEE-Std. 1149.x的JTAG/边界扫描解决方案供应商GÖPEL电子与ITOCHU SysTech以OEM合约形式开发出了TAKAYA飞针测试机（APT）系列1400和1600系列的边界扫描选项。   

此解决方案是在整合CASCON GALAXY®软件和新SCANFLEX®硬件至灵活型飞针测试系统的基础上完成，包括FPT飞针测试。

GÖPEL电子的发言人Stefan Meissner高兴地宣布：”结合TAKAYA飞针测试机的灵活性能和GÖPEL电子的JTAG/边界扫描测试的优势，增加了两种产品在市场中的客户测试机遇。由于这一开发上的合作，我们现在能提供一个极为强大的解决方案。

”    ITOCHU SysTech的ICT销售和技术服务部产品经理Boris Opfer说：”只有通过与GÖPEL 电子的长期合伙，我们才可能提供这一创新型解决方案，它不仅仅适用于新一代TAKAYA飞针测试系统，还可对原有系统进行改装。现在，现有的TAKAYA用户能升级其测试方案，并从GÖPEL电子的CASCON软件和SCANFLEX®硬件产品中受益。”    在硬件方面，这一整合基于高性能SCANFLEX® PCI控制器型号SFX/PCI1149-x和分别高达20MHz（A型）和50MHz（B型）的可编程TCK频率。    软件方面，通过用户友好的CAPI界面（CASCON应用程序设计界面）将完善的CASCON GALAXY®开发和执行环境整合至操作系统中。从而所有CASCON软件版本的启动代码都可在FPT上进行配置。